產(chǎn)品分類(lèi)
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LG-5型 匝間短路測(cè)試儀
一、簡(jiǎn)要說(shuō)明
線(xiàn)圈類(lèi)產(chǎn)品（如變壓器、電機(jī)等）由于繞線(xiàn)材料、磁性材料、骨架、加工工藝等因素的影響會(huì)產(chǎn)生線(xiàn)圈層間、匝間及引腳間等絕緣性能的降低。
采用高速取樣技術(shù)研制的新一代線(xiàn)圈類(lèi)產(chǎn)品絕緣性能的測(cè)試儀器，可為大多數(shù)線(xiàn)圈類(lèi)產(chǎn)品提供測(cè)試解決方案。
LG-5型 匝間短路測(cè)試儀將標(biāo)準(zhǔn)線(xiàn)圈的采樣波形存儲(chǔ)于儀器中，測(cè)試時(shí)將被測(cè)波形與標(biāo)準(zhǔn)波形比較，根據(jù)設(shè)定的判據(jù)（面積、面積差、相位差、電暈等）以判定被測(cè)線(xiàn)圈的優(yōu)劣。 脈沖式線(xiàn)圈測(cè)試儀需在盡可能不損壞被測(cè)件的條件下測(cè)試其電氣性能，首要條件是能在短暫的瞬間以較低的能量施加于被測(cè)件以判別線(xiàn)圈的品質(zhì)。 測(cè)量時(shí)將與標(biāo)準(zhǔn)線(xiàn)圈測(cè)量時(shí)同樣的脈沖通過(guò)電容器放電施加于被測(cè)線(xiàn)圈，由于線(xiàn)圈電感量、雜散電容和Q值的存在，將響應(yīng)一個(gè)對(duì)應(yīng)于該放電脈沖的電壓衰減波形，比較該衰減波形的某些特征，可以檢測(cè)線(xiàn)圈匝間和層間短路及圈數(shù)和磁性材料的差異, 如果施加一個(gè)高電壓脈沖，根據(jù)出現(xiàn)的電暈或?qū)娱g放電來(lái)判斷絕緣不良。
二、性能特點(diǎn)
線(xiàn)圈類(lèi)產(chǎn)品（如變壓器、電機(jī)等）由于繞線(xiàn)材料、磁性材料、骨架、加工工藝等因素的影響會(huì)產(chǎn)生線(xiàn)圈層間、匝間及引腳間等絕緣性能的降低。
采用高速取樣技術(shù)研制的新一代線(xiàn)圈類(lèi)產(chǎn)品絕緣性能的測(cè)試儀器，可為大多數(shù)線(xiàn)圈類(lèi)產(chǎn)品提供測(cè)試解決方案。
LG-5型 匝間短路測(cè)試儀將標(biāo)準(zhǔn)線(xiàn)圈的采樣波形存儲(chǔ)于儀器中，測(cè)試時(shí)將被測(cè)波形與標(biāo)準(zhǔn)波形比較，根據(jù)設(shè)定的判據(jù)（面積、面積差、相位差、電暈等）以判定被測(cè)線(xiàn)圈的優(yōu)劣。 脈沖式線(xiàn)圈測(cè)試儀需在盡可能不損壞被測(cè)件的條件下測(cè)試其電氣性能，首要條件是能在短暫的瞬間以較低的能量施加于被測(cè)件以判別線(xiàn)圈的品質(zhì)。 測(cè)量時(shí)將與標(biāo)準(zhǔn)線(xiàn)圈測(cè)量時(shí)同樣的脈沖通過(guò)電容器放電施加于被測(cè)線(xiàn)圈，由于線(xiàn)圈電感量、雜散電容和Q值的存在，將響應(yīng)一個(gè)對(duì)應(yīng)于該放電脈沖的電壓衰減波形，比較該衰減波形的某些特征，可以檢測(cè)線(xiàn)圈匝間和層間短路及圈數(shù)和磁性材料的差異, 如果施加一個(gè)高電壓脈沖，根據(jù)出現(xiàn)的電暈或?qū)娱g放電來(lái)判斷絕緣不良。
二、性能特點(diǎn)
 LG-5：?jiǎn)蜗嚯姍C(jī)/電感 320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示 人性化操作界面，操作易學(xué) 低能量測(cè)試：線(xiàn)圈無(wú)損傷 *大40MSPS波形采樣率 比較結(jié)果直接顯示 電壓、時(shí)間和頻率測(cè)量功能 配有腳控測(cè)試開(kāi)關(guān) USB卡可存儲(chǔ)800組標(biāo)準(zhǔn)波形 |
300V-3000V,可編程脈沖測(cè)試 中英文操作界面 低電感量脈沖測(cè)試：*小至10μH 快速判斷線(xiàn)圈絕緣性能：速度達(dá)5.5次 四種波形比較方法 可編程的多種觸發(fā)方式 鍵盤(pán)封鎖和密碼保護(hù)功能 Handler，RS-232C |
